Signal 实验室硅含量元素分析仪

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- 测量原理：

单色波长色散X射线荧光 (MWD XRF) 技术采用先进的聚焦单色反射镜，提高了激发光的强度，与非聚焦和单色光WDXRF技术相比，改善了信噪比以及检测极限和精确度，降低了仪器对基体效应的敏感度。测量过程中，来自第一块反射镜的单色聚焦光束打在样品上，激发样品发射出特征荧光X射线。第二块单色反射镜筛选出硅的特征X射线，并将其反射聚焦到探测器上。MWD XRF是一种直接测量技术，不需要辅助气体或样品转化。

- 应用领域：

• 石油和生物燃料中的总硅含量分析

• 适用于炼油厂、管道终端、添加剂厂和检验实验室

- 仪器特点：

1）符合ASTM D7757 和NB/SH/T 0993

2）检测极限(LOD)：0.65 ppm wt.

3）动态范围：0.65 ppm wt.到3000 ppm wt.

4）即插即用：使用普通电源

5）触摸式用户界面

6）用户可选择测量时间：30-900s

7）75W风冷式X光管

8）无需转换气体、加热元件、石英管或管柱